【神奈川】精密測定システムの機構設計・構造解析(CAE)エンジニア
光学部品精密測定システムの機構サブシステム全体を設計・製作・検証し、測定再現性確保のための機構的解決策を主導的に導出。 以下の業務は単一課題に限定されず、その後様々な光学測定開発課題に共通して適用される。 [業務領域の詳細内容] ① サブミクロン繰り返し精度(±1μm以下)達成を目標とした精密測定治具及びマウント設計 ②構造解析及び環境安定性設計(ANSYS、COMSOLまたはSolidWorksSimulationを用いたモード解析・構造解析) ③光学測定環境構築支援:光学測定装置(干渉計、MTF測定器、共焦点顕微鏡、イメージセンサー測定器など)の光軸調整機構設計及び測定光学系と機構システム間のインターフェース定義 【採用背景】 LG Sciencepark Japanでは、LG Innotek本社と協力し、モバイル(スマートフォン)用カメラモジュールの評価方法に関する中核技術の開発を進めています。 当社は光学部品および光学測定システムの開発能力の高度化を継続的に推進しています。高精度光学測定装置の核心的な競争力は測定再現性と機構的安定性に由来し、これを設計段階から体系的に確保できる専門人材が必要です。 本ポジションは単一課題に限定された採用ではなく、その後様々な光学測定開発課題に継続的に投入可能なプラットフォーム人材を目標とします。したがって、光学測定装置開発の全サイクル(設計→製作→検証→現場適用)を経験したエンジニアを優先します。
